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电子元器件空间辐射单粒子效应测试技术

所属分类:电子信息产业

所属单位:哈尔滨工业大学

联系人:-

联系方式:0951-6087161/5020588

所在地:

成果简介

实现材料、器件和系统多尺度单粒子效应试验测试,支撑商用卫星研制。目前可开展质子(能量70MeV~300MeV连续可调)、氪(Kr,LET≥37MeV·cm2/mg)、钽(Ta,LET≥75MeV·cm2/mg)、铋(Bi,LET≥99.8MeV·cm2/mg)等粒子的电子元器件单粒子效应试验,束流能散<1%,空间均匀度>90%,剂量率100ions~105ions连续可调,上述参数满足《GJB7742-2011:单粒子效应试验方法和程序》等标准规范要求。

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