X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
欢迎来到宁夏技术市场,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
 常见问题  关于我们
成果
成果 专家 院校 需求
微信公众号
当前位置:首页 > 对接活动 > 找成果 > 详情页

用于评估半导体元件电特性的一种短小探针

所属分类:电子信息产业

所属单位:渭南木王智能科技股份有限公司

联系人:-

联系方式:0951-6087161 /5020588

所在地:

成果简介

测试探针用于评估半导体元件的集成电路、平板显示器等的电特性,对其进行通电检查和绝缘检查。随着电子器件越来越小,越来越薄,需要更小的探针来配合市场实际需求,探针行业面临较大挑战。测试探针需要针头、针管、弹簧部件配合以达到测试目的,现在要求探针所占空间越来越小,就需要减少部件的所占空间。与现有探针不同的是,短小探针主要是对弹簧进行了改进,弹簧采用螺旋状结构,其沿着长度方向上的直径逐渐增大,下压后弹簧最小外径端可以缩小到大外径端的里面,这种结构压缩仅为方便在针头受压的时候增加其压缩行程,以便与通过两个针头分别与测试仪器和被测产品接触,实现良好电学接触,因此可以缩短针管长度,来实现良好接触,进而从总体上缩小了探针的尺寸。

Copyright © 2018    宁夏回族自治区生产力促进中心    版权所有    宁ICP备11000235号-3    宁公网安备 64010402000776号

联系电话:0951-5064080              网站访问量:               网站在线人数:0              技术支持:科易网