测试探针用于评估半导体元件的集成电路、平板显示器等的电特性,对其进行通电检查和绝缘检查。随着电子器件越来越小,越来越薄,需要更小的探针来配合市场实际需求,探针行业面临较大挑战。测试探针需要针头、针管、弹簧部件配合以达到测试目的,现在要求探针所占空间越来越小,就需要减少部件的所占空间。与现有探针不同的是,短小探针主要是对弹簧进行了改进,弹簧采用螺旋状结构,其沿着长度方向上的直径逐渐增大,下压后弹簧最小外径端可以缩小到大外径端的里面,这种结构压缩仅为方便在针头受压的时候增加其压缩行程,以便与通过两个针头分别与测试仪器和被测产品接触,实现良好电学接触,因此可以缩短针管长度,来实现良好接触,进而从总体上缩小了探针的尺寸。