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一种用于半导体测试的双头测试探针

所属分类:电子信息产业

所属单位:渭南木王智能科技股份有限公司

联系人:-

联系方式:0951-6087161 /5020588

所在地:

成果简介

本实用新型的目的是提供一种双头测试探针,解决现有双头双动测试探针在其测试过程中针头容易发生摆动,进而造成测试数据误测率高以及测试传输不稳定的问题。
为了解决上述技术问题,本实用新型公开了一种双头测试探针,包括针管,所述针管的一端可伸缩地设置有第一针头,所述第一针头的一端设置有针杆,所述针杆位于所述针管内,所述针杆的外部设置有弹性件,针管的另一端可伸缩地设置有第二针头,所述针杆的一端伸入所述第二针头中。
本实用新型的技术方案,还具有以下特点:
进一步地,所述第一针头和所述第二针头的一端均设置有导向轴,所述导向轴的中部表面延期周向设置有环形槽,所述导向轴的外径等于针管的内径,所述第一针头和第二针头的外径大于针管的内径。
进一步地,所述第二针头的一端设置有插孔,所述针杆的一端伸入所述插孔中。
进一步地,所述弹性件为压缩弹簧。
进一步地,所述第一针头和第二针头的首部均为半球形。。
与现有技术相比,本实用新型具有以下优点:(1)本实用新型的一种双头测试探针,其两个针头装配在针管内,不易发生晃动,稳定性好,能够与被测对象实现良好接触,不会造成测试数据误测率高以及测试传输不稳定的问题;(2)本实用新型的一种双头测试探针,其整体结构简单易于制造,制造成本较低,具有较好的市场推广使用前景。

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