旨在通过估算测试集中各测试向量的故障测试性能，‌对测试集进行智能优化排序。‌研究内容包括测试集的生成与仿真测试、‌测试向量故障测试性能的精确估算，‌以及基于估算结果对测试集进行重新排序，‌形成新的高效测试序列。‌此方法有效减少了故障电路的测试时间，‌显著提升了测试效率。‌成果的创新点‌有：1.智能估算技术‌：‌采用先进算法对测试向量的故障测试性能进行精确估算，‌为测试集优化提供了坚实的数据基础。‌‌2.高效重排序策略‌：‌依据测试性能的高低对测试向量进行重新排序，‌确保高故障覆盖率的测试向量优先执行，‌从而提升整体测试效率。‌3‌.模块化设计‌：‌装置设计采用模块化思想，‌便于后续的功能扩展与升级，‌提升了系统的灵活性和可扩展性。‌‌该科技成果已成功应用于多个集成电路测试场景，‌显著提高了测试效率和质量。‌通过实际应用验证，‌该方法在缩短测试周期、‌降低测试成本方面展现出显著优势，‌受到业界广泛好评。
‌提升了集成电路测试技术的整体水平，‌推动了相关产业的快速发展和转型升级。‌‌通过减少测试时间和成本，‌为企业带来了可观的经济效益，‌增强了市场竞争力。‌由一批具有丰富科研经验和创新精神的专家组成，‌他们在集成电路测试领域有着深厚的造诣和广泛的实践经验，成果的研发过程锻炼了科研团队的创新能力和实践能力，‌为后续的科研工作积累了宝贵经验。‌