一种用于半导体测试的双头单转动式测试探针

所属分类：电子信息产业

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成果简介

测试探针是一种广泛应用于测试半导体、PCB板、FPC等起连接作用的精密探针。随着半导体行业的发展，测试探针的需求越来越多，要求越来越精密。双头单动转动式测试探针，由两个针轴、一个弹簧、一个针管构成。现有组装工艺一般是先将针轴装入针管中并进行打点固定，然后将弹簧、第二针轴从针管的另一端依次装入，最后加工铆口完成封装。该组装工艺的难点在于，装配第一针轴时因产品尺寸较小，第一针轴装入针管中未打点固定前，容易发生偏移脱落，致使组装后的测试探针报废率较高。本发明通过在针轴的尾部外壁上加工滑块，在针管的内套上设置有与滑块相匹配的滑槽，当针轴装入针管后，针轴的滑块将限位在滑槽中，可以起到防止针轴发生偏移脱落的作用。

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