交易价格： 面议
类型： 发明专利
技术成熟度： 正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201310099791.3
交易方式： 完全转让 许可转让 技术入股
联系人： 厦门立德软件公司
所在地：浙江厦门市
本发明公开了一种发光二极管的结温测量方法及应用，结温测量方法包括以下步骤测试不同温度下发光二极管器件中半导体材料的电阻与温度的定标关系；在发光二极管工作时监测半导体材料的电阻变化，并利用定标关系得到发光二极管工作时的结区温度，所得温度即为所要测量的发光二极管结温。所述测温方法应用于垂直结构或平面结构的发光二极管芯片结温测量；或应用于正装或倒装的发光二极管芯片结温测量。该发明可使用成本较低的普通测量装置简单高效的获取LED的结温。由于只需一次定标测量，测量误差小；操作简单易行；仅需常规的电学测试装置。
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