交易价格： 面议
类型： 发明专利
技术成熟度： 正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610269853.4
交易方式： 完全转让 许可转让 技术入股
联系人： 厦门立德软件公司
所在地：浙江厦门市
本发明公开了一种基于盲分离技术的多层复杂结构材料高精度透视检测方法，其基于单通道周期信号盲分离和激光波数调频干涉实现，将光电探测器拍摄的时间序列干涉图像零均值化，建立反映多层复杂结构材料内部各层界面特性的幅值、频率和相位场待求解向量Θ，使用数学最优化方法求解Θ，最后提取向量Θ的相位场分布并进行相位展开，从而实现多层复杂结构材料内部分布的高精度检测。本发明优点是突破因激光波数扫频范围有限带来的Nyquist深度测量分辨率限制，高精度给出多层复杂结构材料内部各界面层的分布情况。
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