交易价格： 面议
类型： 发明专利
技术成熟度： 正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201710282956.9
交易方式： 完全转让 许可转让 技术入股
联系人： 厦门立德软件公司
所在地：浙江厦门市
本发明公开了一种非接触式薄膜温度‑折射率测量装置及方法，该测量装置包括光源、光纤耦合器、第一凸透镜、第二凸透镜、参考板、温度加载器、光谱仪以及信号处理系统。参考板和被测薄膜均置于温度加载器内，温度加载器能够改变参考板和被测薄膜所处的温度。光谱仪能够得到被测薄膜前表面反射光、被测薄膜后表面反射光以及参考板反射光相互干涉的干涉光谱。信号处理系统能够计算得出被测薄膜所处的温度由T1变至T2后其折射率的变化量Δn1。应用本发明提供的测量方法和装置时，可以通过改变被测薄膜和参考板所处的温度，得出被测薄膜随着温度变化折射率的变化值，具有动态测量能力。
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