交易价格： 面议
类型： 发明专利
技术成熟度： 正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201110458521.8
交易方式： 完全转让 许可转让 技术入股
联系人： 厦门立德软件公司
所在地：浙江厦门市
本发明涉及一种高精度荧光各向异性显微成像装置及方法。在反射式荧光显微镜上，光源发出的光通过起偏器、激发滤波片和分光镜后，被显微物镜聚焦于样品上；样品反射的荧光通过物镜、分光镜和发射滤波片后，又通过一个可调角度检偏器，在CCD相机的像平面上成像；计算机控制可调角度检偏器绕成像光路的光轴步进回转，每旋转一个角度，CCD拍摄一帧偏振荧光图像，共计拍摄M幅图像；最后利用傅里叶变换，从M幅图像中计算出荧光各向异性的图像。本发明的特点是建立一种单通道荧光检偏光路，使荧光各向异性的测量分辨率大幅度提高，并且该显微成像系统具有更高的稳定性和更好的抗干扰能力。
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