交易价格： 面议
类型： 发明专利
技术成熟度： 正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610802488.9
交易方式： 完全转让 许可转让 技术入股
联系人： 厦门立德软件公司
所在地：浙江厦门市
本发明公开了一种荧光寿命测量方法及系统，方法包括以激发光照射样品，由光电倍增管接收样品产生的荧光，激发光的调制信号为频率为fE的余弦信号,并以频率为fH0的方波信号X(t)调制光电倍增管的增益电压，样品产生的荧光经过光电倍增管后，由荧光屏接收获得第一图像，采用光电探测器采集所述第一图像，获得第二图像；根据第二图像计算样品产生荧光的荧光寿命。与现有技术相比，本发明荧光寿命测量方法及系统，基于外差高次谐波调频实现荧光寿命测量，采用低频方波信号来对光电倍增管的增益电压进行调制，可放宽对像增强器的技术要求。
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