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[00324435]一种光学干涉谱域相位对照B扫描仪及其测量方法

交易价格: 面议

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201310025566.5

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 厦门立德软件公司

所在地:浙江

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本发明公开了一种光学干涉谱域相位对照B扫描仪及其测量方法,主要用于透视测量复合材料构件内部的离面位移分布。该扫描仪基于光学干涉原理,利用宽带光源的空间调制,在CCD相机的像平面上,将被测复合材料构件内部切面的干涉光谱展开,从光谱的相频特性中计算出复合材料构件内部切面的离面位移分布。该扫描仪可以对透明和光学浑浊复合材料构件进行透视测量,特点是轴向轮廓和离面位移的测量分辨率高,测量速度快,适用于复合材料构件力学特性研究及其微小缺陷检测辨识。

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