[00324177]一种基于光栅式扫描测量的三维面形精确重构方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201710067888.4

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：厦门立德软件公司

所在地：浙江

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明公开了一种基于光栅式扫描测量的三维面形精确重构方法，包括确定光栅扫描路径，选取多条基准扫描线；根据多条基准扫描线，对被测表面进行扫描测量，得到各基准扫描线上的二维截面轮廓；确定各基准扫描线上各点在重构三维面形后的高度值；确定所有横向扫描线上各点在重构三维面形后的高度值，并重构整个三维面形；去掉重构后三维面形在任意正交的两个方向上的相对倾斜量和相对平移量，完成被测表面的三维面形的重构。本发明不需要依赖扫描平台精度，有效消除了扫描平台在各扫描线之间的运动误差，通过选取多条基准扫描线能有效提高实际测量时的信噪比，大大提高重构的精度。本发明可广泛应用于三维重构领域中。

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