[00324018]一种光学相干层析变形场降噪方法
交易价格:
面议
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201710129325.3
交易方式:
完全转让
许可转让
技术入股
联系人:
厦门立德软件公司
所在地:浙江
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了一种光学相干层析变形场降噪方法,在相位对照谱域光学相干层析技术的基础上结合了模糊逻辑的方法,通过对测量结果提取特征参数,并进行模糊推理和判断,对样件的截面轮廓以及样件内部的变形场进行降噪,使截面轮廓更加清晰,变形场分布更加细致。计算干涉光谱的原始幅值Am(y,z)和原始相位差Δφm(y,z);根据干涉光谱的原始幅值Am(y,z)和原始相位差Δφm(y,z)计算特征参数C1、C2、C3和C4;对特征参数C1、C2、C3和C4进行模糊化处理得到模糊化特征参数Cn1、Cn2、Cn3和Cn4;对模糊化特征参数进行判断,输出O1和O2;计算降噪后的输出幅值Ae(y,z)和输出相位差Δφe(y,z);根据输出幅值Ae(y,z)和输出相位差Δφe(y,z)解调出降噪后的变形场。