[00316932]用固相萃取‑原子荧光光谱法测定大米中的痕量砷的方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201510416734.2

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：广西大学

所在地：广西壮族自治区广西壮族自治区

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明公开了用固相萃取‑原子荧光光谱法测定大米中的痕量砷的方法。该方法是通过以吡咯烷二硫代氨基甲酸氨(APDC)修饰的色谱硅胶作为吸附剂分离富集砷，以硫脲‑抗坏血酸作为还原剂及掩蔽剂，建立了APDC固相萃取‑原子荧光光谱法测定大米中砷的方法。由该法测出大米中砷的荧光强度，从标准曲线上算出砷的含量。本发明的优点本发明方法是测定大米中砷含量的前处理方法。样品经过处理后显示方法线性好，方法检出限低，灵敏度高，精密度高，且操作简便、快速，结果准确，适用于大米中砷含量测定。

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