[00314967]一种测量经纬仪高度的方法

交易价格： 面议

类型： 专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：2015104649114

交易方式： 完全转让

联系人：桂林理工大学

所在地：桂林桂林

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明公开了一种测量经纬仪高度的方法。该方法运用光的反射原理。将经纬仪在测量基点上对中整平后，在距测量基点一定距离处树立一把垂直塔尺，塔尺上放置一块反光体。通过反光体沿塔尺上下移动可以从经纬仪目镜中观测到基点在反光体中成的像，由光入射角与反射角相等关系和平行线间夹角关系可以求出经纬仪水平轴到基点的距离，即仪器高度。本发明原理简单明确、材料简单廉价、操作简便、精度高、易掌握、便于工程运用。

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