[00303403]一种点激光测量系统的现场标定和精密测量方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201010604003.8

交易方式： 完全转让

联系人：江南大学

所在地：江苏无锡市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

摘要：本发明针对传统的点激光-相机测量系统标定条件苛刻、标定步骤繁琐的缺点；通过分析相机的成像原理，建立相机成像模型，引入了基线距和基准角这两个结构参数的概念，设计了一种简单灵活的点激光测量系统的现场标定和精密测量方法。该方法只需要两个标准的平面高度H1和H2即可精确完成系统结构的标定任务，并且利用该算法的点激光-相机测量系统有较高的测量精度，可以达到精密测量的要求。该算法使得点激光-相机的结构可调，以及系统结构参数的现场标定成为可能；大大增加了激光测距系统的灵活性，对实际的视觉测量具有重要意义。

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