[00300008]一种测量绝缘子结构高度的装置
交易价格：
面议
类型：
实用新型专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：201621230497.7
交易方式：
完全转让
联系人：
武汉大学
所在地：湖北武汉市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本实用新型提供一种测量绝缘子结构高度的装置，包括基座（1）、吊框（2），所述吊框（2）包括横梁（21）与立柱（22），所述横梁（21）与所述立柱（22）垂直，所述立柱（22）与所述基座（1）的底面垂直，所述立柱（22）上有测量刻度，所述横梁（21）上设置有悬挂件（3），所述悬挂件（3）包括连成一体的悬挂部（31）和连接部（32），所述悬挂部（31）与所测量的绝缘子（4）的钢脚的形状相同。所述基座（1）上可以设有水平仪（11），底部还可以设有 3 个调平支脚（12），本装置还可以包括测量件（5），所述测量件（5）可吸附在绝缘子上。本实用新型结构简单、使用方便，在提高绝缘子结构高度的测量精度方面实用性强。
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