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[00287394]一种软件缺陷预测方法及预测系统

交易价格: 面议

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201710212286.3

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 南京邮电大学

所在地:江苏南京市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本发明公开了一种软件缺陷预测方法,该方法将有类别标记和无类别标记的样本共同处理,在拉普拉斯特征映射(LE)中使用半监督学习,改进LE方法,同时,为了避免将不同类的样本映射到较小的低维邻域中,尤其是将有缺陷样本映射到无缺陷样本邻域中,在LE算法计算样本点距离时引入代价敏感信息,以此来提高LE的映射精度,通过该方法可以有效改善特征提取的鉴别性。本发明还提出一种软件缺陷预测系统,将本发明应用在NASA数据库上,经实验验证所提方法的有效性,并且和其他对比方法相比,在分类性能上有一定的提升。

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