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[00287183]一种基于脉冲光探测磁共振的电磁场近场成像系统及方法

交易价格: 面议

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201710421326.5

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 南京邮电大学

所在地:江苏南京市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本发明公开了一种基于脉冲光探测磁共振的电磁场近场成像系统和方法,该系统由激光泵浦光路、微波源、金刚石NV色心探头、CCD相机单元、同步系统、位移扫描平台、控制软件及数据分析成像系统所构成。该系统采用含有NV色心的金刚石大块单晶做探测单元,并采用静磁场将金刚石NV色心的磁共振峰劈开成8个峰,8个共振峰对应于金刚石晶格结构四个晶轴方向<111>,<1‑11>,<‑111>和<11‑1>,通过测量每个共振峰的拉比频率,获得垂直于该晶轴方向的圆偏振微波场强度,通过对四个方向的微波场强度进行综合计算,再构出微波矢量的强度和方向。通过对被测量微波芯片的局部区域微波近场高分辨成像,可以为芯片失效分析提供定量的数据。

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