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[00282315]利用单电荷技术测量SONOS存储器中局域电荷分布的方法

交易价格: 面议

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201410003915.8

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 南京大学

所在地:江苏南京市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

利用单电荷技术测量SONOS存储器中局域电荷分布的方法,选取未注入过电荷的SONOS存储器,改变源漏电压VDS的大小,测量不同VDS下的阈值电压VTH,得到VTH随VDS变化的分布;通过低压电荷注入过程将单电荷注入到SONOS存储器的氮化物存储层中;注入单电荷的SONOS存储器,得到VTH在VDS>0时随VDS的分布;利用DIBL效应得到由于单电荷注入导致的阈值电压变化ΔVTH与沟道位置X的高斯分布函数;统计出不同沟道位置X处高斯分布的强度A和半峰宽W;测量待测SONOS存储器由于存储电荷引起的阈值电压变化;利用单电子信息,转化为采样点Xi处单电子注入引起的阈值电压变化的函数之和。最终得到存储层中电荷沿沟道方向分布。

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