交易价格： 面议
类型： 发明专利
技术成熟度： 正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201110347133.2
交易方式： 完全转让 许可转让 技术入股
联系人： 中南大学
所在地：湖南长沙市
本发明公开了一种基于激光的变形位移量测方法（专利号201110347133.2），包括以下步骤：步骤1：准备工作：在被测目标物上安装一面反射镜，设定激光的调制频率；步骤2：获取2个相位差值：根据相位差获取步骤获取T0时刻的相位差以及T1时刻的相位差T0时刻和T1时刻均指接收到反射激光的时间；步骤3：计算变形位移量ΔL∶ΔL计算公式为其中K=c/(4πf)。该方法易于实施，且精度高。
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