[00267048]一种激光测厚方法及装置

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201310094889.X

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：浙江理工大学

所在地：浙江杭州市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

摘要：本发明公开了一种激光测厚方法及装置，方法包括如下步骤：（1）采集基准面所返回的激光光斑的图像数据；（2）对所述激光光斑的图像数据进行预处理后，再进行粗定位，得到粗定位后的光斑中心像素点xi；（3）以xi为中心确定一单峰区域，对单峰区域内的若干个数据点进行细定位，得到细定位后的光斑中心，记为x1；（4）再次采集待测物体所返回的激光光斑的图像数据，重复步骤（2）和（3）得到待测物体的细定位后的光斑中心，记为x2，待测物体和基准面的光斑中心的位移z=|x1-x2|；（5）根据位移z计算出待测物体的厚度y。本发明基于CCD及嵌入式ARM算法处理，速度快、精度高，能够实现在线测量。

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