[00258688]一种结构位移监测系统及相关监测方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201710040042.1

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：科小易

所在地：福建厦门市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明提供一种结构位移监测系统，其中光线发射装置用于安装在被监测结构上，光线发射装置朝向光线接收装置的光线投射平面设置用于发射光线至光线投射平面上形成光斑，光线投射平面与光线成角度α设置，光斑位移测量装置朝向光线投射平面设置用于测量光斑在一段时间间隔内在光线投射平面上的光斑位移z，并与结构位移计算装置信号连接用于将光斑位移z发送给它，结构位移计算装置用于根据光斑位移z和角度α计算被监测结构在时间间隔内在与光线垂直的方向上的结构位移x＝z*Sinα。还提供了相关监测方法。本发明的结构位移监测系统监测结构位移省时省力，成本低，而且精度高，监测准确稳定，可以实时记录结构动态位移变化，适于大规模推广应用。

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