[00257309]嵌入式系统存储器的测试结构

交易价格： 面议

类型： 实用新型专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201320761742.7

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：科小易

所在地：福建厦门市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本实用新型公开了一种嵌入式系统存储器的测试结构，内嵌于SoC芯片，包括CPU、控制器、系统总线、SPI接口和多路选择器。其中，CPU通过系统总线与SoC芯片中的存储器阵列相连；控制器通过SPI接口与外部测试机相连；多路选择器的一个输入端与系统总线相连，另一个输入端连接控制器，输出端连接到零位SRAM；SPI接口是SPI Slave外部接口，其和外部测试机之间具有4个接线。本实用新型通过使用嵌入式的CPU，实现了对SoC芯片中的存储器阵列的基于软件的测试；而SPI接口实现简单，接线少，通信速率高，由此节省了测试时间。

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