[00253575]一种测定固定金属亲和柱上金属离子吸附稳定参数的方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201310310683.6

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：西北大学

所在地：陕西西安市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

摘要：本发明公开了一种测定固定金属亲和色谱柱上金属离子键合稳定性的评价方法，它包括环氧硅胶的制备、氨羧类螯合剂的制备和络合稳定常数与饱和吸附量的测定。将氨羧类色谱柱连接到色谱系统中，利用前沿色谱法在不同缓冲液体系下将不同浓度金属离子键合到氨羧类螯合剂上，当键合达到平衡时得到各自的突破曲线，利用Peakfit软件计算出各自的突破时间；根据突破时间计算出表观摩尔吸附量；将金属离子浓度、表观摩尔吸附量代入Langmuir吸附模型，即可测得固定金属离子在氨羧类螯合柱上的络合稳定常数与饱和吸附量。本发明快速，简单，可同时测得多个吸附参数，更加真实、准确地反映出固定金属离子在氨羧类螯合剂上的吸附稳定性。

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