[00252850]一种测量建筑物垂直位移的装置及方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201010129336.X

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：西安交通大学

所在地：陕西西安市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明公开了一种测量建筑物垂直位移的装置及方法，该装置应用连通管原理多点连通，通过对连通容器中的液面分界面位置进行测量，将设备安装处的微小高程变化转换为液面分界面的垂直方向的位置变化，由CCD传感器或PSD光电器件直接检测液面分界面的垂直位置变化。采用单片机实现CCD器件或PSD光电器件的程控驱动、信号处理和识别、数据采集、与计算机通讯等功能。该仪器将传感器和外围电路集成，并设计专用模具制造，仪器的整体性和密封性能好，便于安装。该仪器可用于观测大坝、桥梁、码头、高边坡、地裂缝、断层、软弱夹层等的垂直变形。

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