[00251523]一种基于电光效应的表面电荷测量系统

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN200910023456.9

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：西安交通大学

所在地：陕西西安市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明属于固体绝缘材料放电技术领域，涉及一种基于电光效应的表面电荷测量系统。包括激光器、单模光纤、电荷测量探头、多模光纤、光电转换器、同轴电缆和示波器，激光器的输出接到单模光纤的输入端，通过单模光纤接到电荷测量探头的输入端，电荷测量探头的输出端通过多模光纤连接到光电转换器的输入端，光电转换器的输出端通过同轴电缆连接到示波器，被测绝缘材料设置在电荷测量探头的下方，本发明测量准确度高，是一个较为理想的测量表面电荷的方法。

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