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[00251432]一种基于转子轴向热膨胀模型的测振带表面缺陷识别方法

交易价格: 面议

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201710157353.6

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 西安交通大学

所在地:陕西西安市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

一种基于转子轴向热膨胀模型的测振带表面缺陷识别方法,首先构建由转子轴向热膨胀诱发的测振带表面缺陷故障模型,在模型中模拟了轴向热胀、轴向激振力、测振带表面“圆锥形”缺陷的假设条件,实现对测振带表面缺陷诱发的伪振动故障机理分析,并利用轴心位置图提出了识别此类故障的特征,进而实现了对由转子轴向热膨胀诱发的测振带表面缺陷的精确识别,本发明提高了对旋转机械伪振动问题诊断的准确性与识别效率。

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