[00251419]一种探针法测量介质材料表面电位的装置及方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201610570393.9

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：西安交通大学

所在地：陕西西安市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明提供一种探针法测量介质材料表面电位的装置及方法，测量装置包括置于高真空系统中脉冲电子枪、金属筒状收集极、探针、样品以及平板金属样品托；金属筒状收集极顶部开设有圆孔，脉冲电子枪发出的入射电子束穿过金属筒状收集极顶部圆孔垂直照射到样品上，样品与下方的平板金属样品托紧密相贴并通过电阻R₁接地；金属筒状收集极连接外加电源，探针与样品紧密相贴，并且位于样品以及脉冲电子枪发出的电子束斑点的中央，探针连接示波器；在测量装置中，增加了一个金属探针，配合二次电子发射系数与探针偏压关系曲线的测量过程，完成样品表面电位的测量，该系统不仅结构简单，成本低，而且测量方法简便。

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