[00251343]一种评价Cu系金属纳米多层膜材料附着性能的方法
交易价格:
面议
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201510044188.4
交易方式:
完全转让
许可转让
技术入股
联系人:
西安交通大学
所在地:陕西西安市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
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技术详细介绍
本发明涉及了一种评价Cu系金属纳米多层膜材料附着性能的方法,该方法采用层片状薄膜试样作为测试样品,采用应变速率可控的纳米压痕仪试验装置,采用纳米压入仪,压头为三棱锥金刚石压头,控制应变速率为0.2s‑1,压入深度为薄膜膜厚的80%或以上,测量在加载结束后压痕截面处膜基间界面裂纹的长度,即可计算出金属纳米多层膜材料的附着能。本方法可以简单、方便、快捷地评价纳米多层膜的附着能,为解决纳米多层膜薄膜附着能力的评估提供了有效途径。