[00251193]图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置和方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201710349650.0

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：西安交通大学

所在地：陕西西安市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明公开了一种图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置及方法，该装置沿入射光线的主光轴从左到右依次设有望远系统、消色差四分之一波片、延迟器、Wollaston棱镜、Savart偏光镜、延迟器、检偏器、成像镜及CCD探测器。所述望远系统由第一透镜、视场光阑和第二透镜组成；所述视场光阑设置于第一透镜和第二透镜之间的主光轴上。本发明可以通过单次测量获取与仪器光谱分辨率一致的强度光谱与全部的线偏振光谱信息，较传统通道光谱偏振技术使复原的强度光谱与线偏振光谱均不受串扰的影响，复原结果更加精确并且光谱分辨率了提高3‑7倍。

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