[00251110]光学三维轮廓测量中的无效点探测与剔除方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201710726411.2

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：西安交通大学

所在地：陕西西安市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明公开了一种光学三维轮廓测量中的无效点探测与剔除方法，以图中像素点对应的投影仪图像坐标到其对极线的距离，作为有效性判据，该判据直接关系后续的三维重建精度，不随被测物表面特性及测量环境等影响，具有全局适用性，避免了选取阈值不合适而造成无效点误探的问题，从而可以准确探测无效点并将其剔除，获得仅含有效点的三维重建结果，为后续点云噪声剔除、点云拼接及曲面重构提供高质量的数据。

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