[00249313]基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法及其位移传感器解调系统

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201310293379.5

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：武汉理工大学

所在地：湖北武汉市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

摘要：本发明提供了一种基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法及位移传感器解调系统，将两路干涉光强信号直接相除，所得比值滤去直流项后随F-P腔的腔长变化过程中产生正负脉冲，通过脉冲的正负判断F-P腔长增大或减小，光程差改变一个波长时，计数器计数2次。对应的位移传感器解调系统包括激光器、光纤隔离器、第一光纤耦合器、第二光纤耦合器、第三光纤耦合器、传感单元、光电探测器、前置放大单元、DSP信号处理模块与外设显示单元。本发明具有以下有益效果：省去传感器类型标定、运算和判向过程，降低解调算法复杂度；比值条纹计数法的理论精度是一般条纹计数法的2倍；先天抗干扰，通过DSP信号处理模块实现测量仪器小型。

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