[00245727]基于高斯影响的亚像素轮廓提取及利用Softmax回归在钣金检测场景下的优化

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201710362444.3

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：四川大学

所在地：四川成都市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明涉及基于单目视觉钣金测量系统。在第一阶段，对图像进行畸变校正并对图像进行平滑操作，将钣金侧面的上下边缘进行过滤，并采用Canny算子对钣金像素级边缘检测；然后，根据得到的图像灰度梯度方向分布，提出基于高斯影响的亚像素偏移(GIM)算法，对边缘进行亚像素定位；之后再利用相机标定计算出的内外参对亚像素图像边缘进行平面信息真实比例的还原。第二阶段，基于高斯影响的轮廓提取流程应用到钣金轮廓检测的应用场景中，对图像进行了畸变校正、空间坐标系校正以还原图像轮廓真实信息。考虑由于模型误差和计算误差导致的亚像素定位偏移等因素，使用Softmax回归将提取到的亚像素轮廓再次校正，进而提升轮廓提取的精度。

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