[00230948]一种用于测量晶体分辨率的实验平台

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201510918744.6

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：中国科学院深圳先进技术研究院

所在地：广东深圳市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明公开了一种用于测量晶体分辨率的实验平台，包括底座；两个探测器，两个所述探测器分别可移动地安装在所述底座上，并且两个所述探测器的检测端面对面设置；晶体座，所述晶体座上端设有用于安放晶体的卡接部，所述晶体座安装在所述底座上，并且位于两个所述探测器之间；以及处理装置分与两个探测器电信号连接。由于两个探测器分别位于晶体座的两侧，使得两个探测器可同时对晶体座上的晶体进行探测，获取晶体上闪烁光的光信号并将其转化为电信号，处理装置获取两个探测器分别转化的电信号，根据两个电信号可计算出闪烁光子在晶体上的具体位置，再通过该具体位置得出的测量响应曲线更加接近实际响应曲线，即提高了测量的分辨率。

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