[00229274]集成电路内建自测试所需测试向量的生成电路及方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201410392231.1

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：中国科学院自动化研究所

所在地：北京北京市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

摘要：本发明涉及一种集成电路内建自测试所需测试向量的生成电路，包括地址计数器发送地址数据序列；序列计数器发送数据序列；种子及多项式系数存储单元与地址计数器连接，发送压缩的难测、易测向量的输出值；序列发生器分别与序列计数器和种子及多项式系数存储单元连接，输出2比特数据；权重产生逻辑单元用于输出4路数据值；四选一数据选择器分别连接权重产生逻辑单元、序列发生器输出一路数据；输入寄存器与四选一数据选择器连接，用于寄存数据并装载更新数据；扫描链分别与输入寄存器以及被测电路组合逻辑单元连接，输出更新变化的数据；被测电路与扫描链连接，用于检测被测电路故障。本发明还提供一种集成电路内建自测试所需测试向量生成方法。

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