[00229205]基于纹理基元统计特性分析的虹膜分类方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN200810102312.8

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：中国科学院自动化研究所

所在地：北京北京市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

摘要：本发明公开了一种基于纹理基元统计特性分析的虹膜分类方法，包括：S1.对训练集中清晰的虹膜图像进行预处理，得到感兴趣区域ROI，对ROI区域进行特征提取，对提取的纹理特征进行训练并建模，获得虹膜粗分类模型；S2.对任意输入的清晰虹膜图像进行预处理，得到ROI区域，然后进行特征提取，将提取得到的虹膜纹理特征输入到步骤S1训练得到的模型中，获得输入虹膜图像的类别信息。利用本发明，使得完成一次虹膜比对的平均时间缩短，达到实时的效果，有效地加快了虹膜识别技术在大规模数据库中进行特征模板比对的速度。

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