交易价格： 面议
类型： 发明专利
技术成熟度： 正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN200810229881.9
交易方式： 完全转让
联系人： 中国科学院大连化学物理研究所
所在地：江苏苏州市
本发明涉及飞行时间质谱仪，具体的说是一种实时测量纳米粒子组成元素比值的飞行时间质谱仪，其包括脉冲进样装置、束源室和带有电离室的飞行时间质谱质量分析器，其特征在于电离室位于飞行时间质量分析器内部，脉冲进样装置的前端连接脉冲阀，脉冲进样装置伸入束源室内部，束源室位于激光电离室正上方，其出口通过喷嘴与激光电离室相连，一纳秒长波长高能激光器设置于飞行时间质谱质量分析器的外侧，激光器发出的高能激光束垂直穿过电离室，将纳米粒子完全电离为一价和高价离子，其高价离子比值可以准确反映纳米粒子组成元素的比值，由飞行时间质谱仪记录电离产生的离子。本发明可快速的对纳米粒子元素比值进行测量，测量不受电离激光能量变化的影响。
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