交易价格： 面议
类型： 发明专利
技术成熟度： 正在研发
专利所属地：中国
专利号：201210525867.X
交易方式： 许可转让
联系人： 中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
所在地：江苏苏州市
本发明公开一种红外探测器的测量装置和测量方法，该装置包括红外光谱仪，提供单色的红外光；低温装置，具有红外窗口，该红外窗口接收所述红外光；设于所述低温装置内的待测探测器和参考探测器；移动平台，带动所述红外光谱仪或待测探测器和参考探测器移动；前置放大器，分别连接于所述待测探测器和参考探测器，所述前置放大器将探测信号放大后输出至所述红外光谱仪。本发明首先完成低温装置内高响应度的参考探测器对准，移动平台移动相应偏移量后实现待测探测器的自动对准。可提高小尺寸、低响应度红外探测器低温测量的对准效率与测量精度，方便多个样品多次、重复测量。
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