[00011470]LEM-1非接触式光电跟踪测头
交易价格：
面议
类型：
非专利
技术成熟度：
正在研发
交易方式：
完全转让
联系人：
西安理工大学
所在地：陕西西安市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
技术投资分析：
1、概述
近两年我室成功研制的LEM-1非接触式光电跟踪测头采用半光斑成像原理，以半导体激光器作为光源，集激光技术、光电子技术、光学技术和机械技术于一体，配合三坐标测量机可以完成自由曲面的非接触跟踪测量。
2、性能指标：
测量不确定度 ≤±1μm
测量范围：0 40 mm
脉冲信号输出
模拟量信号输出
3、特点：
作为三坐标测量机的测头，可根据模拟信号输出实现自由曲面测量；
也可采用零点脉冲输出方式，方便快捷地完成对被测表面的动态测量；
体积小，重量轻，安装方便。
技术的应用领域前景分析：
本项目适用于非接触跟踪测量，该技术具有广阔的市场前景。
效益分析：
本技术市场应用范围广，成本低，利润高，效益可观。
厂房条件建议：
无
备注：
无
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