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[00104379]高精度光学测量系统

交易价格: 面议

类型: 非专利

技术成熟度: 正在研发

交易方式: 完全转让

联系人: 华南理工大学

所在地:广东广州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本系统由高精度光学测量仪和光学测量软件组成。光学测量仪可以放大并数字化工件的图像,该图像可被测量软件读取,操作人员通过使用软件提供的多种几何测量功能,检测工件的尺寸。测量数据可以由软件生成Word、Excel报表。软件内置SPC(统计过程控制)功能,能计算最大值,最小值,平均值,标准差,Ca,Cp,Cpk,Ppk,Ucl,Lcl...等统计系数。   技术指标或产品性能:该系统测量精度随图像的放大倍数而不同,在放大倍数为160时精度为5μm。   适用范围及市场前景:该系统适合于小件物件的快速测量或逆向测绘。可广泛用于消费电子、微电子、电子元件、光纤器件、精密零件、钟表零件、小五金等行业。   成果所处研究阶段:产业化阶段   合作方式:技术转让 合作开发 技术入股   知识产权或已应用情况:已申请软件版权

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