技术简介： 本实用新型公开了一种基于声光调制的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本实用新型的光谱测量装置包括沿入射光方向依次设置的声光调制器、光探测器。利用本实用新型进行光谱测量时，首先测量…… 查看详细 >
技术简介： 本发明公开了一种基于声光调制的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本发明的光谱测量装置包括沿入射光方向依次设置的声光调制器、光探测器。本发明还公开了一种基于声光调制的光谱测量方法，…… 查看详细 >
技术简介： 本实用新型涉及一种基于滤波效应的太赫兹波谱测量装置，应用中，避开采用傅里叶变换的方法，因此无需先得到待测太赫兹波的时域谱，也不需要使用机械延迟装置，其结构和光路较为简单，并且整个设…… 查看详细 >
技术简介： 本发明公开了一种宽频光谱仪及其光谱复原方法。该光谱仪包括分光器件、阵列式探测芯片，以及数据采集与分析系统；分光器件可令不同频率的入射光经过后在阵列式探测芯片表面形成不同的光强分布，…… 查看详细 >
技术简介： 本实用新型公开了一种光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本实用新型的光谱测量装置，包括沿光入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数…… 查看详细 >
技术简介： 本实用新型公开了一种微型光谱仪，包括沿光路入射方向依次设置的光学准直装置、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统，所述微型光谱仪还包括毛玻璃，所述毛玻璃设…… 查看详细 >
技术简介： 本发明公开了一种基于自适应正则化的光谱分辨率增强方法，该方法的分辨率是光谱测量中至关重要的指标，然而由于在光谱的测量过程中，光谱测量仪器本身会引入一些导致测量的谱线位置偏移、轮廓增…… 查看详细 >
技术简介： 本发明公开了一种基于滤波膜阵列的光谱测量装置，包括沿入射光传播方向依次设置的光学准直装置、滤波膜阵列、探测阵列芯片；所述滤波膜阵列包括一组平行且在入射光方向上互不重叠的滤波膜，各滤…… 查看详细 >
技术简介： 本发明公开了一种基于变焦透镜的光谱测量方法。本发明方法包括以下步骤：在可调整为n个不同焦距的变焦透镜后固定位置设置一光探测器；将光探测器的可测量频率范围等分为n个频段；事先利用光探测…… 查看详细 >
技术简介： 本发明公开了一种基于衍射效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法。待测太赫兹波经由衍射器件后形成太赫兹频率的衍射波，衍射波在衍射控制器的不同控制条件作用下被探测器所接收；衍射器件可令不…… 查看详细 >
技术简介： 本发明公开了一种光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本发明的光谱测量装置，包括光学准直装置、光散射器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统；经由光学准…… 查看详细 >
技术简介： 本发明公开了一种基于电容放电的线性模拟计数电路。该电路由1个计数电容C和8个NMOS管构成，其中8个NMOS管包括：MN0、MN1、MN2、MN3、MN4、MN5、MN6、MN7。MN0为一个信号输入开关，MN1、MN2、MN3…… 查看详细 >
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