交易价格： 面议
类型： 非专利
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购买华中科技大学2项发明专利,研究开发后转化为项目产品-光功率热分析仪。利用光干涉原理对透光材料及其配套薄膜热膨胀系数的检测。 根据薄膜材料在相变前后光学性质（反射光功率）有较大差异的特性,在程序控制温度下,采用一束恒定光功率的激光照射样品表面,并对其反射回的光功率进行检测,确定样品在对应温度点下的反射光功率,通过分析形成反射光功率与温度的变化曲线,确认样品的包括晶化温度、熔化温度等不同结构相之间转变的一级相变,及其他部分二级相变在内的所有相变温度。 可以同时测量薄膜相变温度和热膨胀系数。 ①针对薄膜材料的检测缺陷开发。利用自主专利技术,利用材料在相变前后光功率的变化情况,准确有效的测试薄膜材料相变温度以及薄膜材料及其相关透光材料的热膨胀系数,同时具备检测两项指标的能力; ②极端条件检测。采用红外环绕加热的方式,选取特定的加热炉材料,设计特定的炉腔结构,实现高温1600℃环境下测试,以适应各种研究温度需要。光功率热分析仪的研发成功,一举填补了无损检测纳米级薄膜材料相变温度和热膨胀系数的国际性技术空白!可同时无损检测材料的相变温度和热膨胀系数。能测量低至5nm的薄膜材料。OPA拥有多项发明专利,具有独立知识产权。采用创新的光干涉原理专利技术,可无损检测块体和薄膜样品的热膨胀系数,广泛应用于辅助各种新材料,尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。 适用范围： 各种材料相变温度（融化、软化、晶化等）的实时测定; 新型材料（相变材料、相变储能材料）的稳定性测试及性能优化; 强诱导体薄膜的结晶化退火; 玻璃基板的均热退火; 注入离子后的扩散退火; 热循环试验与热冲击试验; 半导体材料的烧成与退火条件研究; 升温脱离试验与触媒试验。 本项目产品具备完全自主知识产品,拥有两项发明专利,打破了国外企业在此领域的技术垄断,且本项目技术也处于该领域的先端地位,具有极好发展前景。虽然前期市场有德国耐驰、赛特拉姆、意大利ESS、日本精工、美国TA以及中国湘潭华丰等品牌设备销售,但是他们所检测目标对象主要为块体材料,对薄膜材料检测基本无能为力,因此本项目产品依然具有极大的市场竞争优势,可以充分发挥,尽最大可能占领薄膜材料检测市场,预计在产品最终发展期可占有国内60%左右市场份额,约1500台左右,可实现销售收入12亿。2013年分别获得“湖北省十大科技事件”、“武汉市十大科技事件”;2014年获得“武汉市制造业中的全国第一”称号。
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