交易价格: 面议
类型: 发明专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN202110210001.9
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本发明涉及一种用于检测透明聚合物材料残余应力的测量装置及进行残余应力测量的方法。所述测量装置由测量平台、光源、第一偏振片、第一1/4波片、滚珠丝杠装置、激光器、反射镜装置、第二1/4波片、第二偏振片、CCD相机以及透明聚合物材料模型组成。本发明所述的测量装置通过在测量平台上设置多个滑道,并将光弹法和散光法中所涉及的多个光学部件通过安装磁性底座的方式按顺序与滑道进行装配,在测量过程中,可根据不同测量方法移除相应光学部件或调整各个光学部件在滑道内的相应位置,继而满足不同测量方法的要求。
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