X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
欢迎来到宁夏技术市场,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
 常见问题  关于我们
成果
成果 专家 院校 需求
微信公众号
当前位置: 首页 >  科技成果  > 详细页

[00319750]图与超图谱问题的若干应用基础研究

交易价格: 面议

类型: 非专利

技术成熟度: 正在研发

交易方式: 许可转让

联系人: 谢锦山

所在地:福建厦门市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
分享
|
收藏
|

技术详细介绍

成果简介: 在本研究中,我们主要研究无符号拉普拉斯谱和图与超图的结构性质之间的关系,并给出了一些关于图与超图的无符号拉普拉斯谱半径的有趣结论。另外,我们把两个图的谱距离推广到Q谱距离,并给出了一些关于Q谱距离的初始结论和猜想。最后,我们也研究了图与超图的邻接谱和拉普拉斯谱跟图与超图的其他参数的关系,诸如图的哈密尔顿性,超图的最小度、平均度、最大度、 边连通度和点连通度等参数。 技术成熟度: 理论方面比较成熟,技术应用方面有待开发。

Copyright © 2018    宁夏回族自治区生产力促进中心    版权所有    宁ICP备11000235号-3    宁公网安备 64010402000776号

网站访问量:               网站在线人数:0              技术支持:科易网