交易价格： 面议
类型： 发明专利
技术成熟度： 正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201110082835.2
交易方式： 完全转让 许可转让 技术入股
联系人： 中南大学
所在地：湖南长沙市
一种多测点浮动定位表面不平顺测量方法（专利号201110082835.2），其包括安装基准，支承定位机构，多个测量(点)机构，供电系统，数据采集分析系统及与所述供电系统和数据采集分析系统连接的测量传感器，所述测量安装基准上安置有多个具有确定位置关系的测量机构，每个所述测量机构上安装有位移测量传感器，通过多个测点与被测物体表面的相对位置关系而获得被测体的基本不平顺数据，并进而推算得出不同波长的被测体表面不平顺数据。本发明灵活方便，结构简单，可完全消除测量定位的系统误差，有效提高测量精度，可对被测物体表面不平顺进行测量，在物体表面平顺度的测量上具有重要应用价值，尤其在轨道不平顺检测上有广阔应用前景。
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