[00267282]高纯硼酸中痕量杂质元素钠、镁、钙、铁、铅的测定方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201210412408.0

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：中国地质科学院矿产综合利用研究所

所在地：四川成都市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明公开了高纯硼酸中痕量杂质元素钠、镁、钙、铁、铅的测定方法，具体流程是通过氢氟酸盐酸加热除硼，王水提取可溶性盐类，超纯水定容，原子吸收光谱仪与电感耦合等离子体发射光谱仪测定，实现对高纯硼酸样品中痕量杂质元素的定量富集与分析测定；本发明以氢氟酸除硼，试剂用量少，样品空白低，去除硼酸基体以利于样品上机分析，使用包含原子吸收光谱仪、电感耦合等离子体发射光谱仪在内的原子光谱可实现对单/多元素的同时测定，本发明适用于高纯硼酸样品中痕量杂质元素的分析测定，具有检出限低，灵敏度高，线性范围广等优点，平均单个高纯硼酸样品处理时间不超过2小时。

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