[00266118]基于宽光谱响应CuPc/F4‑TCNQ结构的光电探测器及其制备方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201610864180.7

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：浙江工业大学

所在地：浙江杭州市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

登录后向技术服务商咨询

咨询平台客服试试在线客服吧发布技术需求服务免费

技术详细介绍

本发明提供了一种基于宽光谱响应CuPc/F4‑TCNQ结构的光电探测器及其制备方法，所述的光电探测器依次由透光衬底、导电薄膜电极层、CuPc薄膜层、F4‑TCNQ薄膜层、金属薄膜电极层复合组成；本发明方法制得的光电探测器件光谱响应波段范围大，无需制冷、无需加偏压即可响应从紫外波段一直到近红外波段；零偏压下的最大探测率可达1.5×109Jones；并且制作设备简单，操作方便，制作成本低；制得的光电器件具有良好重复性和稳定性。

成果推荐需求推荐评估专家推荐评估机构推荐

更多>

上海平正评估有限公司

服务分类：资产评估、无形资产评...

进入主页
连城资产评估有限公司

服务分类：资产评估、无形资产评...

进入主页

更多>