交易价格： 面议
类型： 实用新型专利
技术成熟度： 正在研发
专利所属地：中国
专利号：2016201883514
交易方式： 完全转让 许可转让 技术入股
联系人： 武汉大学
所在地：湖北武汉市
本实用新型公开了一种快速电离层探测系统。
电离层探测系统包括数字化发射系统和直接数字采样系统；所述数字化发射系统包括依次连接的计算机、以太网接口、FPGA、高速DA转换电路、宽带功率放大器、发射天线和与所述高速DA转换电路和所述FPGA连接的时钟同步模块；所述直接数字采样系统包括依次连接的接收天线、宽带低噪声放大电路、高速AD采样电路、以太网接口、计算机以及与所述高速AD采样电路连接的时钟同步模块。该系统与传统的电离层探测仪相比，大大缩短了所需要的探测时间，能够做到实时或者准实时的电离层探测。电离层探测系统除了可以进行本地的垂直探测和斜向返回探测之外，还可以进行电离层异地斜向探测和组网探测。
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