[00231525]多b值弥散张量成像采样方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201010612331.2

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：中国科学院深圳先进技术研究院

所在地：广东深圳市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

一种多b值弥散张量成像采样方法，包括以下步骤：在第一b值下单次扫描整个视野，采样获得第一b值下单次扫描信噪比及第一b值下单次扫描信号强度；根据第一b值下单次扫描信噪比及指定的第一b值下多次扫描信噪比计算得到第一b值下多次扫描次数；根据第一b值下单次扫描信噪比及第一b值下单次扫描信号强度计算得到第二b值下单次扫描信噪比；根据第二b值下单次扫描信噪比及指定的第二b值下多次扫描信噪比计算得到第二b值下多次扫描次数。上述多b值弥散张量成像采样方法，通过对第一b值实施单次预扫描及不同b值的信噪比遵循的关系，便可以自适应的选定各个b值实际需要的重复扫描次数，从而降低了总的采样次数，大大降低了采样的时间，提高了弥散张量成像的速度。

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